中芯国际申请半导体结构形成方法专利,提高半导体结构的性能

时间:2025-04-02 18:23:00

金融界2025年4月2日消息,国家知识产权局信息显示,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司申请一项名为“半导体结构的形成方法”的专利,公开号CN 119743995 A,申请日期为2023年9月。

专利摘要显示,一种半导体结构的形成方法,方法包括:在沟道露出的鳍部的侧壁和顶部形成第一保护层;对第一保护层露出的凸起部的侧壁进行横向刻蚀,使剩余凸起部的侧壁相对于鳍部的侧壁向内凹进;对第一保护层露出的凸起部的侧壁进行横向刻蚀之后,去除第一保护层;在沟槽中形成隔离结构,隔离结构的顶部低于凸起部的顶部;形成隔离结构之后,在沟槽的侧壁形成第二保护层,第二保护层覆盖鳍部的侧壁以及沟槽露出的凸起部侧壁。对沟槽露出的凸起部的侧壁进行横向刻蚀,使剩余凸起部的侧壁相对于鳍部的侧壁向内凹进之后,使第二保护层能够将同一垂直面上的鳍部侧壁和凸起部侧壁覆盖住,也增大了形成第二保护层的工艺窗口,从而提高了半导体结构的性能。

天眼查资料显示,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,成立于2000年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本244000万美元,实缴资本244000万美元。通过天眼查大数据分析,中芯国际集成电路制造(上海)有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目120次,财产线索方面有商标信息147条,专利信息5000条,此外企业还拥有行政许可442个。

本文源自金融界